體積電阻率測(cè)試儀的絕緣特性試驗(yàn)

更新時(shí)間：2022-02-16

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　　體積電阻率測(cè)試儀采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試，其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高阻計(jì)兩部分組成。是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值。

　　體積電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻(表面電阻率)，表面比電阻的大小可間接反映試驗(yàn)材料表面靜電泄漏時(shí)間的長(zhǎng)短，從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電性能。

　　電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流I的變化而變。測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，其測(cè)量精度很高，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

　　絕緣特性試驗(yàn)是檢驗(yàn)電工設(shè)備絕緣性的技術(shù)手段。絕緣缺陷從范圍看大致可分為兩類：集中性的或局部性的缺陷，如內(nèi)部的氣隙、局部的開裂、磨損、受潮等；分布性的缺陷或整體絕緣性能的降低，如絕緣材料的整體受潮、劣化變質(zhì)等。

　　絕緣內(nèi)部有了這兩類缺陷，其特性都會(huì)或多或少發(fā)生變化，必須用合適的試驗(yàn)方法及測(cè)量?jī)x器，把這些變化或差異正確、靈敏地測(cè)量出來，從而對(duì)絕緣狀態(tài)作出恰當(dāng)判斷。（絕緣電阻測(cè)量）絕緣材料的基本特性是絕緣電阻高。電工設(shè)備的額定電壓越高，要求絕緣電阻越高。

　　絕緣電阻值與設(shè)備容量和尺寸有關(guān)，不能簡(jiǎn)單規(guī)定某一數(shù)值。通常將設(shè)備的數(shù)據(jù)與出廠前數(shù)據(jù)比較，或把同一設(shè)備的每相分別測(cè)得的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以此判定絕緣電阻是否有差異。檢驗(yàn)電工設(shè)備絕緣性能的技術(shù)手段。

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